【简介】仪景通X射线检测仪 贵金属材料光谱分析仪器采用 XRF 光谱分析原理，面向贵金属流通、回收加工场景。仪器可同步读取多种元素含量，不需要化学试剂，不对样品产生损伤。设备自带防护窗口结构，降低样品划伤探测器风险，支持现场移动检测。配套数据管理功能，可保存、导出检测记录，为物料分级、交易评估提供成分参考数据。

　　仪景通X射线检测仪 贵金属材料光谱分析仪器，把实验室光谱分析能力集成至便携机身，解决传统贵金属检测送检周期长、部分检测手段会损毁样品的行业现状，实现走到待测物料位置即可开展成分分析。

　　仪景通X射线检测仪 贵金属材料光谱分析仪器核心单元包含硅漂移探测器、X 射线管以及自动滤光系统，滤光组件可自动切换匹配不同元素激发需求，无需人工反复调整参数。设备针对贵金属应用场景调试专属分析程序，能够解析金、银、铂、钯、铑等组分，同时识别基体当中混杂的其他金属元素。面对 K 金合金、贵金属旧料、回收碎料、贵金属工艺品等多种物料，均可完成元素信息采集。检测全程属于无损方式，不破坏样品外观与实物价值，适合高价值货品查验。

　　设备人机结构经过优化，平衡手柄可以减轻长时间手持的负重感，电池供电摆脱线缆束缚，移动作业灵活。整机通过跌落可靠性测试，防尘防溅构造适配车间、堆场这类多粉尘环境，高低温环境下依旧可以正常运行。内置气压计，自动完成海拔补偿，当作业地点海拔发生变化时，减少环境因素对检测信号的干扰。探测器前端配有防护闸片，样品靠近检测口时，缓冲硬物撞击，延长设备使用周期。

　　仪器系统自带存储空间，检测完成自动记录元素数据，支持外接设备导出报表，便于企业归档物料信息。设备上手门槛不高，熟悉基础安全操作规范后即可开展检测工作。在实际作业时，如果样品表面存在污渍、锈蚀，建议先做简单清洁;表面凹凸明显的样品，建议多点检测取综合结果。该仪器多用于现场筛查评估，相关数据作为业务参考，遇到对数值要求严格的场景，建议和实验室检测方式互相补充，构建完整的检测方案，适配贵金属行业各类业务流程。